웨이퍼 결함 탐지 및 모니터링 시뮬레이터

가상의 반도체 웨이퍼 이미지를 분석하여 결함을 탐지하고 실시간으로 모니터링하는 소프트웨어

2026년 06월 진행중

CPP CSHARP WPF OpenCV MVVM

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Project Overview

목적: 가상의 반도체 웨이퍼 이미지를 불러와, 불량 픽셀(결함)을 찾아내고 그 위치를 UI에 실시간으로 표시하는 소프트웨어를 개발합니다.

핵심 구현 기능:

WPF 기반의 대시보드 UI: 장비 조작 패널처럼 화면을 구성하며, MVVM(Model-View-ViewModel) 패턴을 철저히 지켜 UI와 비즈니스 로직을 완벽히 분리합니다.
비전 검사 코어 알고리즘: OpenCV를 활용해 이미지의 노이즈를 제거(블러링)하고, 엣지를 추출하여 정상 패턴과 다른 결함(스크래치나 먼지)을 찾아냅니다. 특정 구역(ROI) 내의 결함 개수를 빠르게 카운트하기 위해 구간 합 및 탐색 알고리즘을 적용합니다.
C++과 C#의 연동 (Interop/DLL): 무겁고 빠른 이미지 처리는 C++(DLL)이 전담하고, 결과 데이터(결함 좌표, 처리된 이미지)를 C#으로 넘겨받아 WPF 화면에 출력하는 구조를 구축합니다.

목표: 프로젝트 아키텍처 설계 및 트러블슈팅 기록 관리 (Notion)

웨이퍼_결함탐지_시뮬레이터_기획서.pdf

진행 방식 (작게 시작하기): 검은색 배경에 흰색 점(결함)이 찍힌 단순한 이미지를 OpenCV로 읽어 개수를 세고 좌표를 찾는 C++ 콘솔 프로그램부터 단계적으로 구현합니다.
기록 및 관리: MVVM 패턴 적용 중 발생하는 데이터 바인딩 오류나, C++과 C# 간의 데이터 변환(Marshaling) 과정에서 생기는 메모리 누수 등의 트러블슈팅 과정을 노션(Notion) 데이터베이스에 상세히 기록하며 진행합니다.